雷達物位計是較為優(yōu)良的雷達式物位測量儀表
，天線被進一步優(yōu)化處理
。內(nèi)部新型的快速微處理器可以進行更高速率的信號分析處理，使儀表更加適用于固體料
、過程容器或強粉塵易結(jié)晶
、結(jié)露場合
，測量zui大距離可達70米。
那么雷達物位計利于其優(yōu)勢如何做到測量無死角?下面對其具體介紹：
1
、zui小測量范圍與天線有關(guān)
。
2、對于過溢保護
，可定義一段距離附加在盲區(qū)上
。
3
、測量范圍超出的動作當測量范圍超出時，儀表輸出為22mA電流
。
4、若介質(zhì)為低介電常數(shù)當其處于低液位時
，罐低可見
，為保證測量精度
，一般是建議將零點定在低高度為C的位置。
5
、隨濃度不同
，泡沫既可以吸收微波
，又可以將其反射
，在一定的條件下雷達物位計也是可以進行測量的。
6
、測量范圍從波束觸及罐低的那一點開始計算
，在特殊情況下
，若罐低為凹型或錐形，當物位低于此點時無法進行測量
。
7、理論上測量達到天線頂端的位置是可能的
，但考慮到腐蝕及粘附的影響
，測量范圍的終值應距離天線的頂端至少100mm。
用戶在選型時
，可以考慮上述中雷達物位計的測量優(yōu)勢，再結(jié)合實際需求正確進行選擇
，使物位計的功能可以得到zui大實現(xiàn)
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